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离子减簿仪

离子减簿仪

离子减薄仪,离子束研磨系统,Leica样品制备仪

  • 型号: EM RES102
  • 品牌:徕卡Leica
  • 产地:德国
遵循标准:
简介:
徕卡显微系统公司开发和制造用于分析微结构和纳米结构的显微镜和科学仪器。该公司广泛认可光学精密和创新技术,是复合和立体显微镜,数码显微镜,共聚焦激光扫描和超分辨率显微镜相关成像系统,电子显微镜样品制备和...本离子减簿仪的特点:德国徕卡EM RES102离子减簿仪使您的样品具备最高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。

离子减簿仪产品介绍

徕卡显微系统公司开发和制造用于分析微结构和纳米结构的显微镜和科学仪器。该公司广泛认可光学精密和创新技术,是复合和立体显微镜,数码显微镜,共聚焦激光扫描和超分辨率显微镜相关成像系统,电子显微镜样品制备和外科显微镜的市场领导者之一。

使用徕卡 EM RES102,使您的样品具备最高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。

各种样品架可以进行多元化应用。除了高能量的离子铣工艺,徕卡EM RES102也可适于采用低离子能量处理非常柔软的样本。


高效并节约成本

  • TEM,SEM和LM应用功能集于一体

  • SEM样品制备最大可达25mm样品直径

  • TEM样品制备获得的薄区大,有效提高了TEM样品制备效率

  • 局域网功能方便远程操控

安全

离子源和样品运动马达驱动,程序化控制,因而可获得重复性制样结果

保持样品原生态

LN2样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨

操作简便

  • 内置应用参数库  

  • 帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护

TEM或SEM样品制备 – 在于您的选择

为了支持多样化的应用需求,Leica EM RES102 可以装配各种样品台以适用于TEM,SEM及LM样品制备。预抽室系统实现样品快速交换,从而可有效提高样品交换效率 。

SEM

斜坡切割样品台适用于切割样品获得纵截面(90°)或斜截面(35°),便于SEM观察样品内部纵向结构,可以在环境温度下或 LN2 制冷情况下使用。

该样品台适用于SEM和LM样品的离子束清洁,抛光和衬度增强,可在环境温度下或 LN2制冷情况下使用。SEM样品台可以制备最大尺寸达 25mm 的样品。适配器用于夹持商品化生产的带有3.1mm直径插针的SEM样品座。


薄片样品台用于夹持最大尺寸为5(H)×7(W)×2(D) mm样品。该样品台可以很方便地被直接转移进SEM中,而不需要取出样品。


TEM

TEM样品夹用于单面或双面离子束减薄,减薄角度可低至4°。


TEM冷冻样品夹具与LN2制冷装置联用,用于制备温度敏感型样品。


FIB清洁样品台用于清洁FIB样品,减少表面无定形非晶层。



离子减簿仪技术参数

离子减簿仪标准配置

离子减簿仪可选配件

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