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离子减簿仪

离子减簿仪

离子减薄仪,离子束研磨系统,Leica样品制备仪

  • 型号: EM RES102
  • 品牌:徕卡Leica
  • 产地:德国
遵循标准:
简介:
创诚致佳为您提供扫描电镜、台式电子扫描显微镜、分析型扫描电镜、临界点干燥仪、高真空镀膜机、超薄切片机、倒置式工业显微镜等产品介绍及销售。本离子减簿仪的特点:德国徕卡EM RES102离子减簿仪使您的样品具备最高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。
硬度测试
金相制样(切割,磨抛,镶嵌)
橡胶制品测试
显微镜
环境试验箱
拉力试验机
量具
三坐标测量
进口打标机
红外热像仪
表面光学检测
厚度测量
粗糙度仪
物性检测
探伤仪
长度测量
望远镜
人体测温设备
汽车专用检测设备
密度浓度计

离子减簿仪产品介绍

使用徕卡 EM RES102,使您的样品具备最高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。

各种样品架可以进行多元化应用。除了高能量的离子铣工艺,徕卡EM RES102也可适于采用低离子能量处理非常柔软的样本。


高效并节约成本

  • TEM,SEM和LM应用功能集于一体

  • SEM样品制备最大可达25mm样品直径

  • TEM样品制备获得的薄区大,有效提高了TEM样品制备效率

  • 局域网功能方便远程操控

安全

离子源和样品运动马达驱动,程序化控制,因而可获得重复性制样结果

保持样品原生态

LN2样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨

操作简便

  • 内置应用参数库  

  • 帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护

TEM或SEM样品制备 – 在于您的选择

为了支持多样化的应用需求,Leica EM RES102 可以装配各种样品台以适用于TEM,SEM及LM样品制备。预抽室系统实现样品快速交换,从而可有效提高样品交换效率 。

SEM

斜坡切割样品台适用于切割样品获得纵截面(90°)或斜截面(35°),便于SEM观察样品内部纵向结构,可以在环境温度下或 LN2 制冷情况下使用。

该样品台适用于SEM和LM样品的离子束清洁,抛光和衬度增强,可在环境温度下或 LN2制冷情况下使用。SEM样品台可以制备最大尺寸达 25mm 的样品。适配器用于夹持商品化生产的带有3.1mm直径插针的SEM样品座。


薄片样品台用于夹持最大尺寸为5(H)×7(W)×2(D) mm样品。该样品台可以很方便地被直接转移进SEM中,而不需要取出样品。


TEM

TEM样品夹用于单面或双面离子束减薄,减薄角度可低至4°。


TEM冷冻样品夹具与LN2制冷装置联用,用于制备温度敏感型样品。


FIB清洁样品台用于清洁FIB样品,减少表面无定形非晶层。



离子减簿仪技术参数

离子减簿仪标准配置

离子减簿仪可选配件

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