X 为了您更好的体验建议你全屏浏览!
当前位置:首页 >> 三坐标测量 >> 其他测量机 >>德国Zeiss三维X射线测量系统METROTOM
三维X射线测量系统

三维X射线测量系统

射线测量系统,断层扫描系统,蔡司CT扫描

  • 型号:METROTOM
  • 品牌:蔡司Zeiss
  • 产地:德国
遵循标准:
简介:
坐标测量机(Coordinate Measuring Machine,简称CMM)是最有代表性的坐标测量仪器。坐标测量机中,以测量仪器的平台为参考平面建立机械坐标系,采集被测工件表面上的被测点的坐标值,并投射到空间坐标系中,构建工...本三维X射线测量系统的特点:METROTOM三维X射线测量系统利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。
硬度测试
金相制样(切割,磨抛,镶嵌)
橡胶制品测试
显微镜
环境试验箱
拉力试验机
量具
三坐标测量
进口打标机
红外热像仪
表面光学检测
厚度测量
粗糙度仪
物性检测、质构仪
探伤仪
长度测量
望远镜
人体测温设备
汽车专用检测设备
密度浓度计

三维X射线测量系统产品介绍


基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)

利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。

利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务

测量与检验整体部件

ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。


轻松且精准地进行多样化特征检测

利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,ZEISS METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。


直观简易的软件操作

仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据,再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。


 


三维X射线测量系统技术参数

三维X射线测量系统标准配置

三维X射线测量系统可选配件

三维X射线测量系统相关视频

暂时不能提供,如需要详细资料,请主动与我们联系。

三维X射线测量系统资料下载

暂时不能提供,如需要详细资料,请主动与我们联系。

三维X射线测量系统相关产品

高性能扫描测量机
Leitz Reference Xi高性能扫描测量机将Leitz高性能的扫描技术应用于新型Leitz Reference Xi,提供了丰富的测量选择:从连接自动旋转测座TESASTAR-m的LSP-X1扫描探测系统,到配备固定式扫描探测系统LSP-X3c 一直到LSP-X5,能够在配备加长探针的情况下保持高精度.在各种配置下提供一如既往的高精度 - 无论是分度还是固定式探测系统。
超高精度测量机
SAGER 机型拥有完善的测量系统、高精度的测量性能、丰富的探测系统配置和强大的软件评价功能,是各种精密零部件尺寸检测的最佳选择。各种复杂形状的齿轮、齿轮刀具、精密叶片、凸轮、凸轮轴、螺旋压缩机转子、API石油管螺纹量规等,SAGER凭借其精密的机械结构和丰富的软件评价功能,确保整个测量过程始终稳定可靠,并提供精确、可定制的检测报告和分析结果,满足不同批量、不同种类部件的高精度检测需求。
高速扫描测量机
Leitz SIRIO Xi 是一台真正的四轴测量机。水平臂配以可无限定位的转台作为第四个扫描轴,能够显著减少每个工件的测量时间,并减少探针更换次数。提供了标准的高速扫描和高精度测量结果,结合设备的整体动态性能,设立了工业新标准,为生产过程控制的提供最大的支持。
Leitz PMM-C高精度测量机
高性能的Leitz PMM-C 系列测量机把高精度、高效率有机地结合在一起。快速采集数据和先进的高速扫描为高效率的过程控制提供了最优化的检测报告。除了执行标准测量任务,如:发动机箱体,以及传动齿轮箱检测,由于拥有极高的测量精度而能够处理具有复杂形状工件的检测,Leitz PMM-C成为真正意义上的通用测量中心。

北京创诚致佳科技有限公司专业从事分析测试仪器设备的研发、生产制造、市场开发、国际贸易、销售及技术服务。