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三维X射线测量系统

三维X射线测量系统

射线测量系统,断层扫描系统,蔡司CT扫描

  • 型号:METROTOM
  • 品牌:蔡司Zeiss
  • 产地:德国
遵循标准:
简介:
蔡司是专门研究光学领域技术的企业,一直致力于开发、生产和销售用于工业计量和质量保证的高度创新解决方案,用于生命科学和材料研究的显微镜解决方案,以及用于眼科和显微外科诊断和治疗的医疗技术解决方案。蔡司这...本三维X射线测量系统的特点:METROTOM三维X射线测量系统利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。

三维X射线测量系统产品介绍

蔡司是专门研究光学领域技术的企业,一直致力于开发、生产和销售用于工业计量和质量保证的高度创新解决方案,用于生命科学和材料研究的显微镜解决方案,以及用于眼科和显微外科诊断和治疗的医疗技术解决方案。蔡司这个名字也是世界领先的光刻光学器件的代名词,它被芯片工业用于制造半导体元件。全球需要引领潮流的蔡司品牌产品,如眼镜镜片,相机镜头和双筒望远镜。


基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)

利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。

利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务

测量与检验整体部件

ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。


轻松且精准地进行多样化特征检测

利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,ZEISS METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。


直观简易的软件操作

仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据,再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。


 


三维X射线测量系统技术参数

三维X射线测量系统标准配置

三维X射线测量系统可选配件

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