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高阻双电四探针测试仪

高阻双电四探针测试仪

遵循标准:
简介:
电阻测试仪,是电气安全检查与接地工程竣工验收不可缺少的电子设备工具。包括接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪、直流电阻测量仪、表面电阻测试仪以及回路电阻测试仪。可测试保护CT伏安特性、5%和10...本高阻双电四探针测试仪的特点:HT-371高阻双电四探针测试仪覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。
硬度测试
金相制样(切割,磨抛,镶嵌)
显微镜
质构仪、物性分析
橡胶制品测试
万 能试验机
环境试验箱
量具
进口打标机
红外热像仪
厚度测量
粗糙度仪
探伤仪
长度测量
汽车专用检测设备
密度浓度计
表面光学检测
三坐标测量
其他仪器设备

高阻双电四探针测试仪产品介绍

HT-371高阻双电四探针测试仪

  

功能概述:

1. 可以测试到1010Ω方阻值.

2. 液晶显示,高精度AD芯片控制.

3. 恒流输出, 四探针双位测量.

4. 参考美国 A.S.T.M 标准.

5. 中或英文语言版本.

   

应用说明:

覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等.

高阻双电四探针测试仪技术参数

  参数资料:

  规格型号

  HT-371A

  HT-371B

  HT-371C

 方块电阻范围

  10-4~1×107Ω/□

 10-4~1×109Ω

 10-4~1×1010Ω

 电阻率范围

  10-5~2×108Ω-cm

10-5~2×1010Ω-cm

 10-5~2×1011Ω-cm

 测试电流范围

  10mA ---200pA

  10mA ---20pA

 10mA ---2pA

  电流精度

  ±2%

  ±2%

  ±5%

  电阻精度

  ≤10%

  ≤10%

  ≤15%

 显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

  



 测试方式

  组合双电测试方法



    工作电源

  输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W



   误差

  ≤15%



 选购功能

  选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台



   测试探头

  探针间距选购: 2mm;3mm两种规格; 探针材质选购:碳化钨针、镀金磷铜半球形针




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