内容摘要:所有 SEM 的基本组件包括以下内容:电子源(“枪”)电子透镜样品台所有感兴趣信号的检测器显示/数据输出设备基础设施要求:电源真空系统冷却系统无振动地板无环境磁场和电场的房间SEM 总是至少有一个检测器(通常是二次电子检测器),并且大多数都有额外的检测器。特定仪器的特定功能主要取决于它所容纳的检测器。应用SEM ...
所有 SEM 的基本组件包括以下内容:
电子源(“枪”)
电子透镜
样品台
所有感兴趣信号的检测器
显示/数据输出设备
基础设施要求:
电源
真空系统
冷却系统
无振动地板
无环境磁场和电场的房间
SEM 总是至少有一个检测器(通常是二次电子检测器),并且大多数都有额外的检测器。特定仪器的特定功能主要取决于它所容纳的检测器。
应用
SEM 通常用于生成物体形状 (SEI) 的高分辨率图像并显示化学成分的空间变化:1)使用EDS获取元素图或点化学分析,2) 基于平均原子序数 (通常与相对密度相关)使用BSE,以及 3) 基于微量元素“活化剂”(通常是过渡金属和稀土元素)差异的成分图,使用CL。SEM 还广泛用于基于定性化学分析和/或晶体结构来识别相。使用 SEM 还可以精确测量尺寸小至 50 nm 的非常小的特征和物体。背散射电子图像 ( BSE) 可用于快速区分多相样品中的相。配备衍射背散射电子探测器 ( EBSD ) 的 SEM 可用于检查许多材料中的微结构和晶体取向。