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当前位置:首页 >> 长度测量 >> 光学测量仪 >>意大利VICIVISIONTouch Probe 扫描探针Touch Probe
Touch Probe 扫描探针

Touch Probe 扫描探针

遵循标准:
简介:
光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。借用计算机技术,可以实现快速,准确的测量。方便记录,存储,打印,查询等等功能。 据介绍,光学测量主要应用在现代工业检测,主要检测产品的形位公差以及数值孔径等是...本Touch Probe 扫描探针的特点:Touch Probe 扫描探针配备在Vicivision测量系统的光源顶部, 结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统,使转动部件实现了完整的测量控制。可测量轴向和总轴向跳动长度、平面度、垂直性、键槽宽度、键槽深度、键槽长度。
硬度测试
金相制样(切割,磨抛,镶嵌)
显微镜
质构仪、物性分析
橡胶制品测试
万 能试验机
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量具
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红外热像仪
厚度测量
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长度测量
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表面光学检测
三坐标测量
其他仪器设备

Touch Probe 扫描探针产品介绍

圆柱形零件光学测量机

无与伦比的性能

光学和触觉功能的结合,使转动部件实现了完整的测量控制。

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一个测量系统,多种选择。

一个全新的轴测量功能,结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统。

 

触摸式探头

Vicivision测量系统现在配备了一个Renishaw扫描探针,安装在光源顶部。探针可以互换,覆盖整个长度区域。

 

光学与触觉结合

当光学测量系统快速提供静态、几何和螺纹测量、形状和螺母测量时,触摸系统检测不可光学测量的特征。

touch-vicivision-500x427.jpg

光学和触摸组合可测量:

轴向和总轴向跳动长度;平面度;垂直性

键槽宽度;键槽深度;键槽长度


Touch Probe 扫描探针技术参数


精度

重复性

长度值

3,5 + L/200 μm

1 μm

跳动值

1.2 μm

0.3 μm


Touch Probe 扫描探针相关视频

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